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レーザーOESによる迅速なスラグ分析!

ドイツQuantoLux
社製 QLX 9

QLX 9 はサンプル前処理不要の EAF スラグ 及び LF スラグ分析用の

スタンドアップレーザー分光計です。

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QLX9はサンプル前処理不要の Electric Furnace Slag ( EAF ) スラグ 及び Ladle Furnace ( LF ) スラグ分析用のスタンドアップレーザー分光計です。QLX9 は、スラグやその他の不均一なサンプルを事前のサンプル前処理なしで 約 1 分未満で分析できるレーザー分光計です。 これにより、現場でのプロセス適応と、1 時間あたり最大 55 サンプルのクローズド メッシュ モニタリングが可能になります。 両方の効果により、プロセス制御がより安定し、リソース効率が最大化されます。

QLX9は高速分析と卓越した安定性により、XRF 分析装置の完全な代替品となります。メンテナンスが少なく、アルゴンガスやバインダーなどの消耗品を必要としないため、全体的な運用コストは、確立されたすべての分析手法の中ではるかに低くなります。
 
   
   
装置仕様 
本体寸法 585×585×1200㎜(幅×奥行き×高さ)
重量 90Kg
 レーザー発生器 パルス レーザー、クラス 1(クローズドサンプルステージ)
 スペクトル範囲  VIS-nIR
 光学系 シングル、デュアルまたはトリプル光学系(オプション)
 検出器  相補型金属酸化膜半導体 (CMOS)
レーザー照射部  開口部3㎜
 ディスプレイ コントローラのタイプに応じて13インチまたは23インチ
 電源  AC230V 50/60Hz
 動作温度  5℃~35℃
 プロセッサ  intel i3以上
 OS  Windows 10
サンプルステージ  回転サンプルトレイ、直径 100 mm
 
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ドイツ QuantoLux 社製スラグ分析用スタンドアップレーザー分光計 QLX 9
レーザーOESによるスラグの迅速分析
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